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器件3D模型
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BU4212FVE 数据手册 - ROHM Semiconductor(罗姆半导体)
制造商:
ROHM Semiconductor(罗姆半导体)
封装:
VSOF-5
描述:
低电压检测IC,具有可调节的输出延迟 Low Voltage Detector IC with Adjustable Output Delay
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BU4212FVE 技术参数、封装参数
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描述
封装
VSOF-5
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BU4212FVE
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ROHM Semiconductor(罗姆半导体)
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BU4212 数据手册
BU4212
数据手册
ROHM Semiconductor(罗姆半导体)
低压免费延时时间设定CMOS电压检测器IC系列 Low Voltage Free Delay Time Setting CMOS Voltage Detector IC Series
BU4212
G-TR
数据手册
ROHM Semiconductor(罗姆半导体)
监控器/电压检测器, 低电平有效, 开漏, 700mV至7V, 1.2V阈值, 1监视器, SSOP-5
BU4212
FVE-TR
数据手册
ROHM Semiconductor(罗姆半导体)
ROHM BU4212FVE-TR 芯片, 电压探测器, 150NA, 7V, VSOF-5
BU4212
F-TR
数据手册
ROHM Semiconductor(罗姆半导体)
监控器/电压检测器, 低电平有效, 开漏, 700mV至7V, 1.2V阈值, 1监视器, SOP-4
BU4212
FVE
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ROHM Semiconductor(罗姆半导体)
低电压检测IC,具有可调节的输出延迟 Low Voltage Detector IC with Adjustable Output Delay
BU4212
F
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ROHM Semiconductor(罗姆半导体)
低电压检测IC,具有可调节的输出延迟 Low Voltage Detector IC with Adjustable Output Delay
BU4212
GTR
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ROHM Semiconductor(罗姆半导体)
BU4212
G
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ROHM Semiconductor(罗姆半导体)
低电压检测IC,具有可调节的输出延迟 Low Voltage Detector IC with Adjustable Output Delay
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